Dummy wafer（亦被稱為Test Wafer）,不同於通常使用的晶圓片產品，主要指用於實驗及檢查等用途的晶圓片。因此，Dummy wafer（Testwafer）中再生晶片被普遍使用。

為了提升製造設備初期製造過程中的穩定性，Dummy wafer也被廣泛投入使用。同時在評測傳輸以及加工形狀中亦會使用。由於在實驗及測試中使用較多，因此尺寸以及厚度在很多情況下很重要。

在各個工程中，使用Dummy wafer（Test wafer）去測試鍍膜厚度，耐壓，光屈率，有無Pinball，如果是石板印刷術，則會在測試圖案以及有無缺陷時使用到Dummy wafer（Test wafer）。

晶圓制程中控片擋片起監控測試和維持穩定作用，為必需部件。矽片按照在晶圓廠的應用場景不同，可以分為兩大類：（1）正片（Prime Wafer），被直接用於半導 體加工，包括拋光片、外延片等；（2）用於監控測試的矽片，包括控片（monitor wafers）、 擋片（dummy wafers）/ 測試晶片（Test Wafer）。

製造晶圓的精細要求極高，矽片表面的平整度將直接關係到晶片的性能品質，所以晶圓廠需要時刻對製造設備的性能進行監測測試以及維持穩定，以保證最終的成品率。由於這些測試和維持穩定都是破壞性的，直接使用產品測試以及維持穩定的成本較高，於是廠商一般會使用較便宜的無圖形矽片，這些用於測試和維持穩定的無 圖形矽片就是控片和擋片。

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